15 сентября 2016 года состоится технический семинар “Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов”. Место проведения семинара – г. Москва, площадь Европы, д.2, гостиница “Рэдиссон Славянская”, конференц-зал “Пушкин/Чехов”, второй этаж. Начало в 9:00.
Семинар посвящен разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов.
Платформа NI PXIe и современные технологии тестирования радиоэлектронной аппаратуры:
1. Платформа автоматизации измерений и тестирования NI PXIe – новые продукты и направления развития
2. Подходы к разработке и архитектура построения тестовых систем
3. Типовые решения в области параметрического тестирования низкочастотной и СВЧ РЭА
4. Методы создания систем функционального контроля РЭА
2. Подходы к разработке и архитектура построения тестовых систем
3. Типовые решения в области параметрического тестирования низкочастотной и СВЧ РЭА
4. Методы создания систем функционального контроля РЭА
NI STS – новейшее семейство тестеров электронных компонентов:
1. Организация испытательных лабораторий по тестированию электронных компонентов (ЭКБ)
2. NI STS – новое семействе тестеров ЭКБ от National Instruments
3. Использование NI STS в задачах тестирования аналоговой, цифровой и смешанной ЭКБ
4. Использование NI STS в задачах тестирования СВЧ ЭКБ
5. Опыт применения аппаратуры NI PXI в задачах тестирования ЭКБ на воздействие спецфакторов
2. NI STS – новое семействе тестеров ЭКБ от National Instruments
3. Использование NI STS в задачах тестирования аналоговой, цифровой и смешанной ЭКБ
4. Использование NI STS в задачах тестирования СВЧ ЭКБ
5. Опыт применения аппаратуры NI PXI в задачах тестирования ЭКБ на воздействие спецфакторов
В программу семинара также включены выступления российских пользователей тестовых систем NI PXIe, а также партнеров компании по разработке и внедрению таких систем «под ключ».