Семинар по стендовым испытаниям в Москве, 22 марта 2018 г.

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в серии технических семинаров, посвященных применению технологий NI для построения автоматизированных систем тестирования, контрольно-поверочной̆ аппаратуры, систем контроля и мониторинга.
 
Постоянное усложнение продукции современной̆ промышленности выдвигает все более сложные требования к системам автоматизации измерений, от входного контроля компонентной̆ базы и параметрического тестирования отдельных блоков до сложного функционального тестирования комплексных систем в условиях, максимально приближенным к реальным. С другой̆ стороны, ставятся все более сжатые временные рамки, как для тестирования, так и для разработки систем тестирования.
Для решения этих задач сегодня необходимо использовать современные подходы, позволяющие не только создать систему, наилучшим образом решающую текущую задачу, но и готовую к обновлению и модификации по мере изменения продукции и требований.
В ходе семинаров специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем тестирования и новинках программных и аппаратных средств, а партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.
Целевая аудитория
 
Семинары предназначены для инженеров и руководителей групп разработчиков, заинтересованных в применении современных технологий.
 
Узнайте о ключевых технологиях NI, о том, как Вы можете применять их в соответствии с конкретными потребностями Вашей задачи.
Не упустите шанс научиться у технологических лидеров, пообщаться с Вашими коллегами и узнать, как Вы можете оптимизировать задачи, которые важны для Вашей деятельности.
 

Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре по стендовым испытаниям в Москве, 22 марта 2018 г.

Семинар посвящен применению технологий NI для построения автоматизированных систем тестирования, контрольно-поверочной аппаратуры, систем контроля и мониторинга.

В программе семинара:

  • Актуальные задачи автоматизированных систем измерения, управления и моделирования;
  • Встраиваемые системы мониторинга и управления;
  • Автоматизированные системы управления стендовыми испытаниями;
  • Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования (HIL).

Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации.